簡體中文| ENGLISH
具備目前主流的LUX、MOS、Win等系統顯示效果測試,以及高溫或常溫環境下的3D mark & FurMark測試,可靈活實現超頻與降頻測試。有豐富的高端A卡和N卡芯片組焊接、生產組裝、測試經驗。